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          2. 復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
            產(chǎn)品中心
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            AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)

            更新時(shí)間:2025-05-27
            產(chǎn)品型號(hào):LiteScope
            所屬分類:拓展硬件
            描述:AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)SEM 與 AFM 是亞納米級(jí)樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補(bǔ)的兩大技術(shù)。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)超高效工作流程,完成傳統(tǒng) AFM 和 SEM 難以或無(wú)法實(shí)現(xiàn)的極限性能和復(fù)雜樣品分析。
            詳情介紹

            AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)

            產(chǎn)品簡(jiǎn)介

            革命性的原子力顯微鏡(AFM),可實(shí)現(xiàn)與掃描電子顯微鏡(SEM)的無(wú)縫集成,為原位關(guān)聯(lián)顯微鏡開辟新可能。

            憑借優(yōu)化設(shè)計(jì),LiteScope AFM 兼容賽默飛世爾、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM 系統(tǒng)及其配件,其他品牌電鏡亦可定制適配。

             

            測(cè)量模式:

            &bull; 機(jī)械性能:AFM,能量耗散,相位成像

            &bull; 電性能:C-AFM、KPFM、EFM、STM

            &bull; 磁性能:MFM

            &bull; 電機(jī)械性:PFM

            &bull; 光譜學(xué):F-z

             曲線,I-V 曲線

            &bull; 相關(guān)性分析:CPEM


            AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)

            實(shí)用特點(diǎn)

            • 原位樣品表征

            在 SEM 內(nèi)部的原位條件下確保樣品分析同時(shí)、同地、同條件下進(jìn)行,并且在飛納電鏡內(nèi)部也能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率

            • 精確定位感興趣區(qū)域

              SEM 與 AFM 原位聯(lián)用,保證了同一時(shí)間、同一地點(diǎn)和相同條件下的分析 使用 SEM 畫面,實(shí)時(shí)觀測(cè)探針與樣品的相對(duì)位置,為探針提供導(dǎo)航,精準(zhǔn)定位

            • 實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的樣品分析需求

              提供電氣、磁學(xué)、光譜等多種測(cè)量模式,且能同一位置直接聯(lián)用 SEM 及 EDS 功能。同時(shí)獲取 AFM 與 SEM 數(shù)據(jù),并將其無(wú)縫關(guān)聯(lián)



            應(yīng)用案例

            鋼和合金的復(fù)合分析

            利用原子力顯微鏡對(duì)雙相鋼進(jìn)行復(fù)合分析,揭示了表面形貌(AFM)、鐵 氧體晶粒的磁疇結(jié)構(gòu)(MFM)、晶粒相比(SEM)和表面電位雜質(zhì)開爾文 探針力顯微分析法。 &bull; 相關(guān)多模態(tài)分析揭示了復(fù)雜的性質(zhì) &bull; 掃描電鏡精確定位 ROI,AFM 綜合分析


            電池的原位表征

            固態(tài)電池(SSB)比鋰離子電池顯示出更高的能量密度、更長(zhǎng)的壽命和更 好的安全性。由鋰鎳錳鈷氧化物(NMC)顆粒組成的正極膠帶在手套箱中 經(jīng)過 200 個(gè)周期后被打開,原位切割并使用 AFM-in-SEM 測(cè)量。

             樣品提供: Aleksandr Kondrakov, BELLA (DEU)

            &bull; 在 CAM 橫截面處對(duì)局部電導(dǎo)率(C-AFM)進(jìn)行表征

            &bull; 無(wú)需空氣暴露即可原位制備敏感 CAM


            納米線的優(yōu)良表征

            懸掛蜘蛛絲納米線因其機(jī)械性能而被研究,通過超精確定位AFM 尖在懸掛的納米線上。力-距離光譜學(xué)使得確定納米線的彈性和塑性 變形成為可能。

            樣品提供: Linnea Gustafsson, KTH (SWE)。

            &bull; SEM: 精確定位 AFM 尖和納米線變形的實(shí)時(shí)觀察

            &bull; 分析屬性如楊氏模量和抗拉強(qiáng)度




            選配件

            納米壓痕模塊

            納米壓痕模塊能夠在使用超高倍數(shù)掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時(shí)進(jìn) 行微機(jī)械實(shí)驗(yàn),并利用 LiteScope 以亞納米級(jí)分辨率對(duì)壓痕樣品進(jìn)行 分析

            NenoCase 與數(shù)碼相機(jī)

            在環(huán)境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨(dú)立 AFM 使用,通過數(shù)碼 相機(jī)精確導(dǎo)航探針。

            樣品旋轉(zhuǎn)模塊

            適用于 FIB 后進(jìn)行 AFM 分析。此外還允許同時(shí)安裝多個(gè)樣品實(shí)現(xiàn)在不 打開 SEM 腔室的情況下即可對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行測(cè)試。




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